[发明专利]功率金氧半导体场效晶体管的制造方法有效
| 申请号: | 200910246513.X | 申请日: | 2009-11-30 |
| 公开(公告)号: | CN102082125A | 公开(公告)日: | 2011-06-01 |
| 发明(设计)人: | 张翊麒;吴嘉连 | 申请(专利权)人: | 杰力科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/8234 | 分类号: | H01L21/8234;H01L21/336;H01L21/28 |
| 代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
| 地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 本发明提供一种功率金氧半导体场效晶体管的制造方法。在具有第一导电型的基底上形成具有第一导电型的磊晶层。在磊晶层中形成具有第二导电型的主体层。在基底上形成多数个罩幕图案。在罩幕图案之间的主体层及磊晶层中形成多数个沟渠。在沟渠的表面形成氧化物层。在沟渠中形成导体层。对罩幕图案进行削减制程,以缩小各罩幕图案的线宽。以经削减的罩幕图案为罩幕,在各沟渠的两侧的主体层中形成具有第一导电型的二源极区。在导体层上及经削减的罩幕图案之间形成多数个介电图案。移除经削减的罩幕图案。 | ||
| 搜索关键词: | 功率 半导体 晶体管 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种功率金氧半导体场效晶体管的制造方法,包括:在具有一第一导电型的一基底上形成具有所述第一导电型的一磊晶层;在所述磊晶层中形成具有一第二导电型的一主体层;在所述基底上形成多数个罩幕图案;在所述罩幕图案之间的所述主体层及部分所述磊晶层中形成多数个沟渠;在所述沟渠的表面形成一第一氧化物层;在所述沟渠中形成一第一导体层;对所述罩幕图案进行一削减制程,以缩小各所述罩幕图案的线宽;以经削减的所述罩幕图案为罩幕,在各所述沟渠的两侧的所述主体层中形成具有所述第一导电型的二源极区;在所述第一导体层上及经削减的所述罩幕图案之间形成多数个介电图案;以及移除经削减的所述罩幕图案。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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