[发明专利]一种全谱域叠层硅基薄膜太阳电池无效

专利信息
申请号: 200910245205.5 申请日: 2009-12-30
公开(公告)号: CN101777591A 公开(公告)日: 2010-07-14
发明(设计)人: 张建军;倪牮;曹宇;王先宝;耿新华;赵颖 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: H01L31/042 分类号: H01L31/042;H01L31/028
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 代理人: 侯力
地址: 300071*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种全谱域叠层硅基薄膜太阳电池,由三个硅基薄膜太阳电池叠加沉积在衬底上制成,其中第一个p-i-n是宽带隙硅基薄膜电池,第二个p-i-n电池是中间带隙硅基薄膜太阳电池,第三个p-i-n电池是窄带隙硅基薄膜太阳电池,其采用硅、锗合金型窄带隙材料作为吸收层,带隙为(0.66~1.1)eV、厚度为(1000~3000)nm。本发明的优点是:结构新颖,窄带隙材料采用硅、锗合金型,通过与其它硅基薄膜合金材料的组合,使不同吸收层材料的带隙为2.0eV~0.66eV,可实现叠层电池的电流最佳匹配,实现硅基薄膜电池对太阳光谱300nm~1800nm的全谱域响应,提高了电池的光电转换效率。
搜索关键词: 一种 全谱域叠层硅基 薄膜 太阳电池
【主权项】:
一种全谱域叠层硅基薄膜太阳电池,由三个硅基薄膜太阳电池叠加沉积在衬底上构成,其中第一个p-i-n是宽带隙硅基薄膜电池,薄膜材料为非晶硅、纳米晶硅、非晶硅碳或非晶硅氧,带隙为(1.7~2.0)eV、厚度为(100~250)nm,第二个p-i-n电池是中间带隙硅基薄膜太阳电池,薄膜材料为非晶硅锗或微晶硅,带隙为(1.1~1.6)eV、厚度为(200~2000)nm,其特征在于:第三个p-i-n电池是窄带隙硅基薄膜太阳电池,其采用硅、锗合金型窄带隙材料作为吸收层,其中结晶成分占全部材料的体积百分比为30%~80%;带隙为(0.66~1.1)eV、厚度为(1000~3000)nm。
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