[发明专利]半导体装置制造方法和半导体装置有效
| 申请号: | 200910225931.0 | 申请日: | 2009-11-23 |
| 公开(公告)号: | CN101740490A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
| 发明(设计)人: | 牟田忠义 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/482;H01L23/522 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 魏小薇 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明涉及半导体装置制造方法和半导体装置。提供一种半导体装置的制造方法,包括:在与电极焊盘的位置对应的点处形成贯穿半导体基板的通孔;在包括通孔的内部的半导体基板的后表面上形成绝缘膜;至少在通孔的开口部分中的绝缘膜表面上由金属或无机绝缘体形成粘接稳固层;在粘接稳固层上形成用作底部蚀刻中的掩模的抗蚀剂层;执行底部蚀刻以露出电极焊盘;去除抗蚀剂层以获得没有否则会由底部蚀刻产生的表面不规则性的绝缘膜;通过低温处理形成阻挡层、籽层和导电层;和执行构图。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种具有在半导体基板的前表面上形成的电极焊盘和半导体器件的半导体装置的制造方法,该制造方法包括:形成贯穿半导体基板的通孔并由此在通孔的底部露出电极焊盘,该通孔在与半导体基板的前表面相反的半导体基板的后表面上、在与在半导体基板的前表面上形成的电极焊盘的位置对应的点上具有开口部分;在通孔的底部上和通孔的内壁上形成绝缘膜;至少在通孔的开口部分中的绝缘膜表面上形成粘接稳固层;在粘接稳固层的表面上形成抗蚀剂层;以所述抗蚀剂层作为掩模蚀刻通孔的底部的绝缘膜,以由此在通孔的底部露出电极焊盘;去除抗蚀剂层以露出粘接稳固层;和在通孔的底部上以及通孔的内壁上形成导电层,并使所述导电层与所述电极焊盘接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社,未经佳能株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910225931.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种防火涂料及其制备方法
- 下一篇:形成半导体器件的金属布线的方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





