[发明专利]一种恒星敏感器成像结构有效

专利信息
申请号: 200910216991.6 申请日: 2009-12-31
公开(公告)号: CN102116926A 公开(公告)日: 2011-07-06
发明(设计)人: 郝云彩 申请(专利权)人: 北京控制工程研究所
主分类号: G02B17/08 分类号: G02B17/08;G01C21/02
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 100080 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于深空导航敏感器技术领域,具体公开了一种恒星敏感器成像结构,像差校正镜的一个光学面采用2次非球面,不但能够起到校正像差的作用,使系统成像能够达到近衍射极限水平,而且降低了系统加工和装调难度,节约了成本;同时像差校正镜还可以起到保护窗口的作用,能够防止空间环境对系统的破坏,如辐照、温差等。
搜索关键词: 一种 恒星 敏感 成像 结构
【主权项】:
一种恒星敏感器成像结构,它包括主镜(2)和次镜(3),其特征在于:主镜(2)的中心开有圆孔,次镜(3)的左端设有像差校正镜(1),所述的成像结构还包括有校正镜组(4)和光栏(5),校正镜组(4)右侧设有焦平面探测器(6),所述的像差校正镜(1)有两个光学面,其中一个为球面,另外一个为二次非球面,所述的主镜(2)是一个凹面球面反射镜,所述的次镜(3)为一个凸面球面反射镜,所述的校正镜组(4)为2~5片同种材料的球面透镜组成的球面透镜组;所述的焦平面探测器(6)为光电类型探测器;所述的校正镜组(4)位于主镜(2)圆孔中,且在主镜(2)左右两侧的任意一侧。光线从无限远处经光栏(5)约束入射到像差校正镜(1)的第一个面,透射到像差校正镜(1)的第二个面,再进入主镜(2),经反射后进入次镜(3),再经过反射后进入校正镜组(4),经校正镜组(4)聚焦后进入焦平面探测器(6)。
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