[发明专利]梳状赝像检测装置和梳状赝像检测方法有效
申请号: | 200910208090.2 | 申请日: | 2009-10-27 |
公开(公告)号: | CN101729841A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 松冈秀树;浜野崇 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | H04N7/01 | 分类号: | H04N7/01;H04N5/44 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了一种梳状赝像检测装置和梳状赝像检测方法,该梳状赝像检测装置包括:特征值计算单元,其根据输入图像来计算特征值;胶片模式检测单元,其利用该特征值来检测胶片模式;像素差计算单元,其利用作为胶片模式检测结果的2∶3下拉次序检测信息和输入图像组合信息,来计算场间像素差;亮度变化确定单元,其基于该像素差计算单元的计算结果来确定亮度变化;梳状赝像候选检测单元,其基于该亮度变化确定单元的确定结果,针对每一行来检测梳状赝像候选;以及梳状赝像确定单元,其基于该梳状赝像候选检测单元的检测结果,针对每个图像来确定是否出现了梳状赝像。 | ||
搜索关键词: | 梳状赝像 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种梳状赝像检测装置,该梳状赝像检测装置包括:特征值计算单元,其根据输入图像来计算特征值;胶片模式检测单元,其利用该特征值来检测胶片模式;像素差计算单元,其利用作为胶片模式检测结果的2∶3下拉次序检测信息和输入图像组合信息,来计算场间像素差;亮度变化确定单元,其基于该像素差计算单元的计算结果来确定亮度变化;梳状赝像候选检测单元,其基于该亮度变化确定单元的确定结果,针对每一行来检测梳状赝像候选;以及梳状赝像确定单元,其基于该梳状赝像候选检测单元的检测结果,针对每个图像来确定是否出现了梳状赝像。
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