[发明专利]梳状赝像检测装置和梳状赝像检测方法有效

专利信息
申请号: 200910208090.2 申请日: 2009-10-27
公开(公告)号: CN101729841A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 松冈秀树;浜野崇 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: H04N7/01 分类号: H04N7/01;H04N5/44
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种梳状赝像检测装置和梳状赝像检测方法,该梳状赝像检测装置包括:特征值计算单元,其根据输入图像来计算特征值;胶片模式检测单元,其利用该特征值来检测胶片模式;像素差计算单元,其利用作为胶片模式检测结果的2∶3下拉次序检测信息和输入图像组合信息,来计算场间像素差;亮度变化确定单元,其基于该像素差计算单元的计算结果来确定亮度变化;梳状赝像候选检测单元,其基于该亮度变化确定单元的确定结果,针对每一行来检测梳状赝像候选;以及梳状赝像确定单元,其基于该梳状赝像候选检测单元的检测结果,针对每个图像来确定是否出现了梳状赝像。
搜索关键词: 梳状赝像 检测 装置 方法
【主权项】:
一种梳状赝像检测装置,该梳状赝像检测装置包括:特征值计算单元,其根据输入图像来计算特征值;胶片模式检测单元,其利用该特征值来检测胶片模式;像素差计算单元,其利用作为胶片模式检测结果的2∶3下拉次序检测信息和输入图像组合信息,来计算场间像素差;亮度变化确定单元,其基于该像素差计算单元的计算结果来确定亮度变化;梳状赝像候选检测单元,其基于该亮度变化确定单元的确定结果,针对每一行来检测梳状赝像候选;以及梳状赝像确定单元,其基于该梳状赝像候选检测单元的检测结果,针对每个图像来确定是否出现了梳状赝像。
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