[发明专利]一种电阻法粒度分析仪固体颗粒粒径校准系数Kd的测量方法

摘要

本发明涉及计量测试技术领域，尤其是涉及一种电阻法粒度分析仪固体颗粒粒径校准系数K_d的测量方法。一种电阻法粒度分析仪固体颗粒粒径校准系数K_d的测量方法，其特征是它包括如下步骤：a、浸润密度ρ的测量；b、初始固体颗粒粒径校准系数K_da的标定；c、样品制备；d、粒度分析；e、按如下公式计算电阻法粒度分析仪固体颗粒粒径校准系数K_d，。本发明由于采用上述技术方案，其优点在于：①无须考虑颗粒形状、多孔性、导电性等因素对测量结果所产生的影响；②是一种绝对的测量方法；③在计量上具有普遍实用性、溯源性，提高了量值测量的准确性。

主权项

1.一种电阻法粒度分析仪固体颗粒粒径校准系数K_d的测量方法，其特征是它包括如下步骤：a、浸润密度ρ的测量，即称取被测固体颗粒样品并将其质量定义为m₁放入体积为R的比重瓶内，比重瓶的体积R定义为R_比重瓶，添加体积为V的电解质溶液并将其体积定义为V_电解液，计算被测固体颗粒样品的浸润密度ρ，ρ＝m₁/(R_比重瓶-V_电解液)；b、初始固体颗粒粒径校准系数K_da的标定，即用已知峰直径的粒度标准物质标定电阻法粒度分析仪的初始固体颗粒粒径校准系数K_da；c、样品制备，即称取被测固体颗粒样品并将其质量定义为m₂分散于体积为T的电解质溶液中形成体积为V_T的悬浮液，体积为T的电解质溶液定义为T_电解液、体积为V_T的悬浮液定义为V_T悬浮液，V_T悬浮液是m₂和T_电解液的混合物；d、粒度分析，即使用电阻法粒度分析仪测量V_T悬浮液的粒度分布，设置V_T悬浮液中的被测体积为V_m，设置粒径间隔为i，得到并记录被测固体颗粒样品粒径间隔为i时的颗粒算术平均体积V_i和粒径间隔为i时的颗粒数量ΔN_i；e、按如下公式计算电阻法粒度分析仪固体颗粒粒径校准系数K_d，式中：K_d为电阻法粒度分析仪固体颗粒粒径校准系数；K_da为粒度标准物质峰直径的标称值与电阻法粒度分析仪测量得到的粒度标准物质峰直径的比值；浸润密度ρ＝m₁/(R_比重瓶-V_电解液)；m₂为样品制备时、将要分散于电解质溶液T_电解液中的被测固体颗粒样品的质量；V_T悬浮液为样品制备时含有质量为m₂的被测固体颗粒样品和电解质溶液T_电解液的混合物；V_m为粒度分析时从V_T悬浮液中抽取的被测体积；ΔN_i为粒度分析后测量得到的被测固体颗粒样品粒径间隔为i的颗粒的数量；V_i为粒度分析后测量得到的被测固体颗粒样品粒径间隔为i的颗粒的算术平均体积。