[发明专利]双光源正弦相位调制位移测量干涉仪无效

专利信息
申请号: 200910200845.4 申请日: 2009-12-25
公开(公告)号: CN101738160A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 王渤帆;李中梁;王向朝 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种双光源正弦相位调制位移测量干涉仪,适用于静态位移的测量。其结构包括光源、光纤耦合器、隔离器、准直器、光电探测器和信号处理器。所述的光源带有驱动电源和温度控制器,且波长不相等;两驱动电源之间连接有初始相位相同的触发控制器;光电探测器将接收到的干涉信号转换成电信号输入到信号处理器内,信号处理器的另外两个输入端口分别与两个驱动电源相连接,经信号处理器处理后的数据显示在数字显示器上。与在先技术相比,本发明的干涉仪结构简单,不采用体光学元件;通过合理地选择正弦相位调制深度,从原理上消除了因未考虑光源的光强调制而对测量结果造成的误差,提高了测量精度。
搜索关键词: 光源 正弦 相位 调制 位移 测量 干涉仪
【主权项】:
一种双光源正弦相位调制位移测量干涉仪,包括由第一驱动电源(2)驱动的带有第一温度控制器(3)的第一光源(1)、由第二驱动电源(12)驱动的带有第二温度控制器(11)的第二光源(10)、第一光纤耦合器(4)、第二光纤耦合器(6)、隔离器(5)、准直器(8)、光电探测器(7)和信号处理器(13),所述的第一驱动电源(2)为第一光源(1)提供直流驱动电流和正弦交流电流,由第一光源(1)发射的光束通过第一段光纤(401)进入第一光纤耦合器(4)内,由第一光纤耦合器(4)出射后,通过第二段光纤(402)进入隔离器(5),由隔离器(5)出射后,通过第三段光纤(601)进入第二光纤耦合器(6)内,由第二光纤耦合器(6)出射后通过第四段光纤(602),经过准直器(8)准直后照射到被测物体(9)上,由被测物体(9)表面反射的光和由准直器(8)出射端面反射的光通过准直器(8)后,经过第五段光纤(603)入射到光电探测器(7)内,所述的第二驱动电源(12)为第二光源(10)提供直流驱动电流和正弦交流电流,第二光源(10)的中心波长λ2不等于第一光源(1)的中心波长,由第二光源(10)发射的光束通过第六段光纤(403)进入第一光纤耦合器(4)内,由第一光纤耦合器(4)出射后,通过第二段光纤(402)射入隔离器(5),由隔离器(5)出射后,通过第三段光纤(601)进入第二光纤耦合器(6)内,由第二光纤耦合器(6)出射后通过第四段光纤(602),经过第一准直器(8)准直后照射到被测物体(9)上,由被测物体(9)表面反射的光和由准直器(8)端面反射的光通过准直器(8)后,经过第五段光纤(603)进入光电探测器(7)内,第一驱动电源(2)和第二驱动电源(12)之间连接有触发控制器(15),信号处理器(13)包含三个输入端口:第一输入端(13a)、第二输入端口(13b)、第三输入端口(13c)和一个输出端口(13d),第一输入端口(13a)与光电探测器(7)的输出端相连,第二输入端口(13b)与第一驱动电源(2)相连,第三输入端口(13c)与第二驱动电源(12)相连,输出端口(13d)与数字显示器(14)相连,其特征在于,测量位移前,选择第一光源(1)和第二光源(10)的注入电流以及准直器(8)和被测物体(9)之间的初始距离,优化正弦相位调制深度为1.841。
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