[发明专利]易轴垂直取向的人工合成反铁磁体和赝自旋阀薄膜结构有效

专利信息
申请号: 200910197211.8 申请日: 2009-10-15
公开(公告)号: CN101692374A 公开(公告)日: 2010-04-07
发明(设计)人: 张宗芝;贺赫;马斌;金庆原 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H01F10/12 分类号: H01F10/12;H01F10/26;H01F10/32;H01F41/18;G11B5/39
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 20043*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于磁记录技术领域,具体为一种易轴垂直取向的人工合成反铁磁体和赝自旋阀薄膜结构。本发明中的人工合成反铁磁体是由中间被非磁性层Ru隔开的两个垂直磁化[Co/Ni]多层膜构成的三明治结构,赝自旋阀结构采用了上述人工合成的反铁磁体作为磁性参考层,单个[Co/Ni]多层膜作为自由层。通过调节Ru层的厚度可以获得不同的反铁磁层间耦合强度,而自旋阀的巨磁电阻信号大小及其热稳定性可以通过通过[Co/Ni]多层膜的周期数来调制。本发明中的赝自旋阀其自由层和参考层磁化翻转场的差别可达800Oe,室温巨磁电阻信号优于6.0%,经300℃热处理后的信号仍高达5.0%,具有优异的热稳定性。本发明在计算机硬盘读头,MRAM和其它自旋电子器件中有重大的应用价值。
搜索关键词: 垂直 取向 人工合成 磁体 自旋 薄膜 结构
【主权项】:
一种具有垂直磁各向异性的人工合成反铁磁体,其特征在于一共分为3层,自下而上依次是缓冲层、人工合成反铁磁层和保护层;其中,缓冲层采用Ta/Cu双层膜,其中Ta层厚度为1-10nm,Cu层厚度为0.6-3.0nm;人工合成反铁磁层由两个具有垂直磁各向异性的[Co/Ni]多层膜中间夹一非磁性的Ru层构成,其中Ru层的厚度为0.5-0.9nm,Ru层下面的[Co/Ni]多层膜中,Ni层在下,厚度为0.50-0.70nm,Co层在上,厚度为0.15-0.33nm,该多层膜的周期数为2-8;Ru层上面的[Co/Ni]多层膜中,Co层在下,厚度为0.15-0.33nm,Ni层在上,厚度为0.50-0.70nm,该多层膜的周期数为3-5;保护层采用金属Ta,厚度为1-10nm。
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