[发明专利]使用复合结构二极管的相变存储器单元及制备方法有效

专利信息
申请号: 200910196237.0 申请日: 2009-09-23
公开(公告)号: CN101673755A 公开(公告)日: 2010-03-17
发明(设计)人: 李宜瑾;凌云;宋志棠;封松林 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L29/861;H01L29/06;H01L21/82;H01L21/329;G11C11/56
代理公司: 上海光华专利事务所 代理人: 余明伟
地址: 200050*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于微电子技术领域,公开了一种使用复合结构二极管的相变存储器单元及制备方法。所述相变存储器单元由复合结构二极管与存储单元构成。其基本特征在于:使用了复合结构的二极管作为相变存储器的选通二极管,此二极管由四层不同特性的半导体材料组成,通过离子注入、固相外延或者化学气相沉积的方法制备。该方法制备的复合结构的二极管有产生的干扰电流小、驱动电流大的特点,同时本发明的结构适用于高密度的相变存储器,采用CMOS工艺,成本低。
搜索关键词: 使用 复合 结构 二极管 相变 存储器 单元 制备 方法
【主权项】:
1.一种相变存储器单元,具有相互平行的字线和相互平行的位线,该单元包括:含有相变材料的存储单元和选通管,其特征在于:所述选通管为复合结构二极管,其具有P+/N+/N-/N+的复合结构;该复合结构二极管的一端与字线相连,另一端与存储单元的下电极相连,存储单元的上电极与位线相连。
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