[发明专利]以三基色对比度为特征帧匹配测量二维位移的方法及装置有效

专利信息
申请号: 200910191318.1 申请日: 2009-11-02
公开(公告)号: CN102052899A 公开(公告)日: 2011-05-11
发明(设计)人: 曾艺 申请(专利权)人: 重庆工商大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 400067 重庆市南*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 以三基色对比度为特征帧匹配测量二维位移的方法及装置,由一台普通的计算机及其摄像头组成;它把图像帧分解成三个基色帧,取各基色帧的边方向数据作为该基色帧的特征,通过计算图像亮度的边方向数据的自关联系数,查看被测物反射面的质地细节,选取合适的比较窗像素阵列,然后与取样帧进行基色帧边方向数据的帧-帧交叉关联匹配计算,取其交叉关联系数最大者作为最佳匹配者,获得各基色帧发生的位移,取它们的平均值作为测量结果,并据此调整比较窗的位置或者更新参考帧,调整交叉关联算子阵列的规模,减少计算量,克服了二基色波长以外的环境光照变化对测量的影响,保证了测量精度。
搜索关键词: 基色 对比度 特征 匹配 测量 二维 位移 方法 装置
【主权项】:
以三基色对比度为特征帧匹配测量二维位移的方法及装置,由一台普通的计算机及其摄像头组成,所述摄像头通过其USB接口连接到所述计算机,该计算机配置有USB接口、内存、CPU、硬盘、显示卡与显示器、键盘和鼠标、操作系统以及摄像头驱动程序,其特征在于,所述计算机系统还配置有摄像头拍摄及三基色边方向数据帧匹配测量位移程序。
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