[发明专利]高亮度发光二极管寿命测试系统及其方法

摘要

一种高亮度发光二极管寿命测试系统，包括：一测试装置、一计算控制装置及一操作端，该测试装置包含有一测试模块、至少一发光二极管及一照度计，该发光二极管设置于测试模块上，该测试模块的内部相对于发光二极管设有一感测单元、一加热单元及一冷却单元，该照度计移动地设于该发光二极管的上方，该计算控制装置分别电性连接于该感测单元、加热单元、冷却单元及照度计，该操作端接收该发光二极管参数及寿命的数据，并实际测试发光二极管的性能，将测试后所得到的结果及需求回馈给该测试装置；藉此，发光二极管在发光过程中可维持一定温环境，且发光二极管可于不同的定温环境下接受测试，从而降低损失，减小成本。

主权项

一种高亮度发光二极管寿命测试系统，其特征在于，包括：一测试装置，其包含有一测试模块、至少一发光二极管及一照度计，该发光二极管设置于该测试模块上，该测试模块的内部相对于该发光二极管设有一感测单元、一加热单元及一冷却单元，该感测单元用以感测该发光二极管的温度，该加热单元及该冷却单元分别用以加热及冷却该发光二极管，该照度计移动地设于该发光二极管的上方，用以量取该些发光二极管的照度；一计算控制装置，其分别电性连接于该感测单元、该加热单元、该冷却单元及该照度计，用以读取该照度计的数值、控制该加热单元及该冷却单元，并计算该发光二极管的参数及寿命；以及一操作端，其接收该发光二极管参数及寿命的数据，并实际测试该发光二极管的性能，将测试后所得到的结果及需求回馈给该测试装置。