[发明专利]地址检测电路和地址检测方法无效
| 申请号： | 200910173459.0 | 申请日： | 2009-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN101676998A | 公开（公告）日： | 2010-03-24 |
| 发明（设计）人： | 中川贵史 | 申请（专利权）人： | 恩益禧电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/00 | 分类号： | G11B7/00;G11B19/02 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孙志湧;穆德骏 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供了地址检测电路和地址检测方法。地址检测电路包括校正信号生成器，该校正信号生成器基于从光盘的摆动读出的ADIP(预刻槽地址)信号生成多个时序校正信号，时序校正信号彼此具有不同的周期；校正信号选择器，该校正信号选择器选择由校正信号生成器生成的时序校正信号中的一个并且输出所选择的信号；以及时序校正器，该时序校正器在根据从校正信号选择器传输的时序校正信号的时序输出基于从光盘的数据轨道读出的数据信号检测到的数据地址。 | ||
| 搜索关键词： | 地址 检测 电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种地址检测电路，包括：校正信号生成器，所述校正信号生成器基于从光盘的摆动读出的ADIP(预刻槽地址)信号生成多个时序校正信号，所述时序校正信号彼此具有不同的周期；校正信号选择器，所述校正信号选择器选择由所述校正信号生成器生成的所述时序校正信号中的一个并且输出被选择的信号；以及时序校正器，所述时序校正器在根据从所述校正信号选择器传输的所述时序校正信号的时序输出基于从所述光盘的数据轨道读出的数据信号检测到的数据地址。
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