[发明专利]图像传感装置及缺陷像素检测方法有效

专利信息
申请号: 200910171855.X 申请日: 2009-09-11
公开(公告)号: CN101677359A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: 山口利朗 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: H04N5/225 分类号: H04N5/225;H04N5/217;H04N5/335
代理公司: 北京怡丰知识产权代理有限公司 代理人: 迟 军
地址: 日本东京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种图像传感装置及缺陷像素检测方法,该图像传感装置包括图像传感器、检测单元及控制单元。所述图像传感器对来自被摄体的入射光进行光电转换。所述检测单元基于由所述图像传感器生成的图像信号,检测所述图像传感器的缺陷像素。所述控制单元当检测在所述图像传感器中不规则地输出异常电平的第一缺陷像素以及规则地输出异常电平的第二缺陷像素时,进行控制,使得在检测所述第一缺陷像素时的所述图像传感器的存储时间短于在检测所述第二缺陷像素时的所述图像传感器的存储时间,并使得用于检测的图像信号的数量变大。
搜索关键词: 图像 传感 装置 缺陷 像素 检测 方法
【主权项】:
1.一种图像传感装置,该图像传感装置包括:图像传感器,其被构造成对来自被摄体的入射光进行光电转换;缺陷像素检测单元,其被构造成基于由所述图像传感器生成的图像信号,检测所述图像传感器的缺陷像素;以及控制单元,其被构造成当检测在所述图像传感器中不规则地输出异常电平的第一缺陷像素以及规则地输出异常电平的第二缺陷像素时,进行控制,使得在检测所述第一缺陷像素时的所述图像传感器的存储时间短于在检测所述第二缺陷像素时的所述图像传感器的存储时间,并且使得用于检测所述第一缺陷像素的图像信号的数量大于用于检测所述第二缺陷像素的图像信号的数量。
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