[发明专利]半导体发光元件以及凸起部分有效

专利信息
申请号: 200910167372.2 申请日: 2009-08-21
公开(公告)号: CN101656210A 公开(公告)日: 2010-02-24
发明(设计)人: 八岛清孝;木胁义成;鎌田满;狩野祥男;成井启修;冈野展贤 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: H01L21/308 分类号: H01L21/308;H01S5/227;H01S5/323;H01S5/18;H01S5/183;H01L33/00;H01L21/331;H01L29/737;H01L29/06;H01L31/02;H01L31/18
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 彭久云
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了半导体发光元件及凸起部分。在以{100}面作为上表面的衬板上形成平行于衬板的<110>方向的凸起部分的凸起部分形成方法包括:(a)在衬板上形成平行于<110>方向的掩模层;(b)蚀刻衬板以形成凸起部分上层,其在对应于{110}面的截取面上的截面形状为下底比上底长且侧表面的倾斜角为θU的等腰梯形;以及(c)进一步蚀刻衬板以形成凸起部分下层,其在对应于{110}面的截取面上的截面形状为下底比上底长且侧表面的倾斜角为θD(其中θD≠θU)的等腰梯形。
搜索关键词: 半导体 发光 元件 以及 凸起 部分
【主权项】:
1、一种在以{100}面作为上表面的衬板上形成平行于该衬板的<110>方向延伸的凸起部分的凸起部分形成方法,该方法包括如下步骤:(a)在该衬板上形成平行于<110>方向延伸的掩模层;(b)采用该掩模层作为蚀刻掩模,根据采用蚀刻溶液的湿法蚀刻方法蚀刻该衬板以形成凸起部分上层,使得该凸起部分上层在对应于{110}面的截取面上的截面形状为下底比上底长且侧表面的倾斜角为θU的等腰梯形;以及(c)在该蚀刻溶液的不同温度根据湿法蚀刻方法并采用该掩模层和该凸起部分上层的侧表面作为蚀刻掩模,进一步蚀刻该衬板以形成凸起部分下层,使得该凸起部分下层在对应于{110}面的截取面上的截面形状为下底比上底长且侧表面的倾斜角为θD的等腰梯形,其中θD≠θU。
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