[发明专利]半导体发光元件以及凸起部分有效
| 申请号: | 200910167372.2 | 申请日: | 2009-08-21 |
| 公开(公告)号: | CN101656210A | 公开(公告)日: | 2010-02-24 |
| 发明(设计)人: | 八岛清孝;木胁义成;鎌田满;狩野祥男;成井启修;冈野展贤 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
| 主分类号: | H01L21/308 | 分类号: | H01L21/308;H01S5/227;H01S5/323;H01S5/18;H01S5/183;H01L33/00;H01L21/331;H01L29/737;H01L29/06;H01L31/02;H01L31/18 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 彭久云 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明公开了半导体发光元件及凸起部分。在以{100}面作为上表面的衬板上形成平行于衬板的<110>方向的凸起部分的凸起部分形成方法包括:(a)在衬板上形成平行于<110>方向的掩模层;(b)蚀刻衬板以形成凸起部分上层,其在对应于{110}面的截取面上的截面形状为下底比上底长且侧表面的倾斜角为θU的等腰梯形;以及(c)进一步蚀刻衬板以形成凸起部分下层,其在对应于{110}面的截取面上的截面形状为下底比上底长且侧表面的倾斜角为θD(其中θD≠θU)的等腰梯形。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 发光 元件 以及 凸起 部分 | ||
【主权项】:
1、一种在以{100}面作为上表面的衬板上形成平行于该衬板的<110>方向延伸的凸起部分的凸起部分形成方法,该方法包括如下步骤:(a)在该衬板上形成平行于<110>方向延伸的掩模层;(b)采用该掩模层作为蚀刻掩模,根据采用蚀刻溶液的湿法蚀刻方法蚀刻该衬板以形成凸起部分上层,使得该凸起部分上层在对应于{110}面的截取面上的截面形状为下底比上底长且侧表面的倾斜角为θU的等腰梯形;以及(c)在该蚀刻溶液的不同温度根据湿法蚀刻方法并采用该掩模层和该凸起部分上层的侧表面作为蚀刻掩模,进一步蚀刻该衬板以形成凸起部分下层,使得该凸起部分下层在对应于{110}面的截取面上的截面形状为下底比上底长且侧表面的倾斜角为θD的等腰梯形,其中θD≠θU。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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