[发明专利]用于随机存取存储器的可编程自检测有效
| 申请号： | 200910166561.8 | 申请日： | 2009-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN101661799A | 公开（公告）日： | 2010-03-03 |
| 发明（设计）人： | 张晴雯;郑玮嘉;林士杰 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/16 | 分类号： | G11C29/16;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京市德恒律师事务所 | 代理人： | 梁 永 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种可提供用于检测存储器的大指令集又能降低面积开销的系统。这种用于检测集成电路的存储器的系统包括：一组寄存器，提供用于多个检测的基于要素的可编程性，即一个检测可以一个要素一个要素的编程，其中各个检测包括多个检测要素；一个有限状态机，用于从寄存器组接收多个检测指令，其中该有限状态机分配信号来指示检测模式发生器以产生检测模式；一个存储器控制模块，用于将所产生的检测模式施加到存储器；以及一个比较器模块，用于将从存储器接收的响应与所存储的、已知的响应相比较。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 随机存取存储器 可编程 检测 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测集成电路的存储器的系统，包括：一组寄存器，提供用于多个检测的基于要素的可编程性，即，一个检测可以一个要素一个要素的编程，其中各个检测包括多个检测要素；一个有限状态机，用于从所述寄存器组接收多个检测指令，其中所述有限状态机分配信号来指示检测模式发生器以产生检测模式；一个存储器控制模块，用于将所产生的检测模式施加到存储器；以及一个比较器模块，用于将从所述存储器接收的响应与所存储的、已知的响应相比较。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司，未经台湾积体电路制造股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200910166561.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种微波烧烤炸鸡
- 下一篇：用于锂离子二次电池的负极材料
