[发明专利]电子设备、电子设备的IC内部组成部件的分散调节方法及IC有效
申请号: | 200910132537.2 | 申请日: | 2009-03-31 |
公开(公告)号: | CN101552885A | 公开(公告)日: | 2009-10-07 |
发明(设计)人: | 冈田隆宏;三浦清志;吉田成宏 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | H04N5/44 | 分类号: | H04N5/44;H04N5/50 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 宋海宁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种电子设备包括:第一集成电路,包括内部组成部件、非易失存储器、及接口部分;测试信号生成部分,配置为生成要供给到第一集成电路的测试信号;第二集成电路,包括:配置为处理第一集成电路的输出信号的处理部分、第一集成电路的接口部分连接到其上的信号处理器、以及配置为检测用来判定所述处理部分进行的测试信号的处理结果的判定信息的检测部分;及控制部分,配置为将来自测试信号生成部分的测试信号,代替输入信号,供给到第一集成电路,并且将指令发给第二集成电路的信号处理器以生成实际使用调节数据。 | ||
搜索关键词: | 电子设备 ic 内部 组成 部件 分散 调节 方法 | ||
【主权项】:
1.一种电子设备,包括:第一集成电路,包括:用来处理输入信号的能够使用调节数据被调节的内部组成部件;非易失存储器,其中存储对所述内部组成部件预先进行的调节结果的预先获得调节数据;以及接口部分,其具有将从所述非易失存储器读出的预先获得调节数据传送到外部的功能和存储从外部发送的实际使用调节数据并将存储的实际使用调节数据供给到所述内部组成部件的另一功能;测试信号生成部分,配置为生成要供给到所述第一集成电路的测试信号;第二集成电路,包括:配置为处理所述第一集成电路的输出信号的处理部分,所述第一集成电路的所述接口部分所连接的信号处理器,以及配置为检测用来判定所述处理部分进行的测试信号的处理的结果的判定信息的检测部分,作为内部组成部件;以及控制部分,配置为将来自所述测试信号生成部分的所述测试信号,代替所述输入信号,供给到所述第一集成电路,并且将指令发给所述第二集成电路的所述信号处理器以生成实际使用调节数据,所述信号处理器在接收到生成实际使用调节数据的指令时重复如下处理:通过所述接口部分接收从所述非易失存储器读出的预先获得调节数据,从接收的预先获得调节数据生成实际使用调节数据的初始值,将实际使用调节数据的初始值发送到所述接口部分,基于来自所述检测部分的判定信息更新实际使用调节数据以生成更新的实际使用调节数据,将更新的实际使用调节数据发送到所述接口部分,从而生成最优的实际使用调节数据。
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