[发明专利]光盘片缺陷区块判定装置及方法无效

专利信息
申请号: 200910132136.7 申请日: 2009-04-21
公开(公告)号: CN101872636A 公开(公告)日: 2010-10-27
发明(设计)人: 陈世国;许锦发;朱修明 申请(专利权)人: 广明光电股份有限公司
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 史新宏
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种光盘片缺陷区块判定装置及方法,由处理器接收烧录数据及命令,将烧录数据储存在存储器。将烧录数据经ECC校正码形成编码数字信号,再经调制装置形成调制量位信号,存回存储器。处理器控制读取头烧录或读取调制量位信号,利用比较单元比对烧录前后调制量位信号的错误量,对高或低错误量直接判定缺陷区块状态,而中错误量则执行解码,并根据解码结果判定缺陷区块状态。
搜索关键词: 盘片 缺陷 区块 判定 装置 方法
【主权项】:
一种光盘片缺陷区块判定装置,包含:处理器,接收烧录数据及命令;存储器,储存该烧录数据;ECC校正码,将存储器中该烧录数据编码形成特定格式的编码数字信号;调制装置,将该编码数字信号形成原调制量位信号,并储存在存储器;读取头,受处理器控制,烧录该原调制量位信号成单位数据区块的数据记号,或读取该数据记号成再生调制量位信号;以及比较单元,比对该数据区块的该再生调制量位信号与该原调制量位信号,产生错误量;其中,该处理器根据该比较单元比对的错误量,判定该数据区块是否为缺陷区块。
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