[发明专利]半导体装置中的垂直沟道晶体管及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200910129463.7 申请日: 2009-03-20
公开(公告)号: CN101546731A 公开(公告)日: 2009-09-30
发明(设计)人: 曹允硕 申请(专利权)人: 海力士半导体有限公司
主分类号: H01L21/8234 分类号: H01L21/8234;H01L21/768;H01L21/311;H01L27/105;H01L23/52
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 杨林森;康建峰
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 一种半导体装置中的垂直沟道晶体管及其制造方法。制造半导体装置的垂直沟道晶体管的方法包括:在基板上形成多个有源柱,每个有源柱具有形成在其下部上并围绕该下部的栅电极;在有源柱之上形成第一绝缘层,以填充有源柱之间的间隙区;部分地去除第一绝缘层,以在所有方向上暴露栅电极的周围表面,而不暴露有源柱之间的间隙区中的基板;在剩余的第一绝缘层上形成传导层,以填充有源柱之间的间隙区;以及图案化传导层,以形成在所有方向上围绕并接触栅电极的周围表面的字线。
搜索关键词: 半导体 装置 中的 垂直 沟道 晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
1. 一种制造半导体装置的垂直沟道晶体管的方法,该方法包括:在基板上形成多个有源柱,每个所述有源柱具有形成在其下部上并围绕该下部的栅电极;在所述有源柱之上形成第一绝缘层,以填充所述有源柱之间的间隙区;部分地去除所述第一绝缘层,以在所有方向上暴露所述栅电极的周围表面,而不暴露所述有源柱之间的间隙区中的所述基板;在剩余的第一绝缘层上形成传导层,以填充所述有源柱之间的间隙区;以及图案化所述传导层,以形成在所有方向上围绕并接触所述栅电极的周围表面的字线。
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