[发明专利]三极管测试方法有效
| 申请号： | 200910109150.5 | 申请日： | 2009-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN101625393A | 公开（公告）日： | 2010-01-13 |
| 发明（设计）人： | 高燕辉;韩玉喜;王明珠 | 申请（专利权）人： | 深圳市晶导电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人： | 何 平 |
| 地址： | 518101广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种三极管测试方法，包括：S1：限定三极管的集电极电流Ic的取值范围是100μA-10mA；S2：测试三极管的放大倍数β；S3：判断β是否大于或等于5，如果是，则表示该三极管合格，如果否，则表示该三极管不合格。采用该三极管测试方法测试后的三极管完全满足电路要求，在输入不同电压情况下，充电器均可正常工作。 | ||
| 搜索关键词： | 三极管 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种三极管测试方法，包括：S1：限定三极管的集电极电流Ic的取值范围是100μA-10mA；S2：测试三极管的放大倍数β；S3：判断β是否大于或等于5，如果是，则表示该三极管合格，如果否，则表示该三极管不合格。
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