[发明专利]细粒度数据完整性检验方法无效
| 申请号： | 200910104142.1 | 申请日： | 2009-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN101582106A | 公开（公告）日： | 2009-11-18 |
| 发明（设计）人： | 陈龙;王国胤;方新蕾 | 申请（专利权）人： | 重庆邮电大学 |
| 主分类号： | G06F21/00 | 分类号： | G06F21/00 |
| 代理公司： | 北京同恒源知识产权代理有限公司 | 代理人： | 赵荣之 |
| 地址： | 400065重*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本发明提供一种具有较高压缩率、较低错误放大率的细粒度数据完整性检验方法，包括如下步骤：1)对源数据对象和待检验数据对象分别执行如下步骤，分别获得源数据对象和待检验数据对象的Hash数据矩阵：11)将数据对象组织为至少一个数据方阵；12)对同一数据方阵中的数据对象进行重复交叉组合，组成多个数据序列，对每个数据序列进行单向Hash计算，获得数据对象的Hash数据矩阵，使每个数据对象参与多个Hash数据运算，每个Hash数据由多个数据对象计算获得；2)对源数据对象的Hash数据矩阵和待检验数据对象的Hash数据矩阵中的对应元素进行比对，根据比较结果判断待检验数据对象与源数据对象是否相同。 | ||
| 搜索关键词： | 细粒度 数据 完整性 检验 方法 | ||
【主权项】：
1.细粒度数据完整性检验方法，其特征在于：包括如下步骤1)读取源数据对象和待检验数据对象，对源数据对象和待检验数据对象分别执行如下步骤，分别获得源数据对象和待检验数据对象的Hash数据矩阵：11)将数据对象组织为至少一个数据方阵；12)对同一数据方阵中的数据对象进行重复交叉组合，组成多个数据序列，对每个数据序列进行单向Hash计算，获得数据对象的Hash数据矩阵，使每个数据对象参与多个Hash数据运算，每个Hash数据由多个数据对象计算获得；2)对源数据对象的Hash数据矩阵和待检验数据对象的Hash数据矩阵中的对应元素进行比对，根据比较结果判断待检验数据对象与源数据对象是否相同。
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