[发明专利]磁体一阶匀场方法

摘要

本发明涉及一种用于核磁共振测量(NMR)和磁共振成像(MRI)系统中主磁体的一阶有源匀场方法，分别在空间正交的三个方向上进行匀场，用回波偏离时间作为主磁场一阶不均匀性的度量，用两个回波偏离时间的差值与相应方向上主磁场一阶不均匀梯度在一定近似条件下的线性关系确定主磁场一阶不均匀梯度，把绝对测量变成相对测量，通过对回波的傅里叶变换，把对依据时间确定主磁场不均匀性的计算转换成依据相位确定主磁场不均匀性的计算，用多点测量线性拟合后直线的斜率代替对单点数据的计算，同时本方法可以获得涡流的定量数据，为消除涡流提供了解决办法。本方法显著提高了测量精度，减少了迭代次数，加快了匀场的速度，且可以用于NMR和MRI系统中任何磁体。

主权项

1、一种磁体一阶匀场方法，其特征在于分别在空间正交的三个方向上进行匀场，在每个方向上施加可产生至少一个梯度回波的匀场脉冲序列至匀场样品，采集一个或多个回波，当采集一个回波时，该回波为梯度回波，当采集多个回波时，所述多个回波中至少包括一个梯度回波，用回波偏离时间作为主磁场一阶不均匀性的度量，从而进行主磁场一阶不均匀性的计算，所述回波偏离时间为实际回波时间偏离理想情况下的回波时间的值，所述理想情况为假设需要匀场的主磁场在FOV内完全均匀的情况。