[发明专利]利用超声波探伤壁厚检测分层缺陷装置及其检测方法有效
| 申请号： | 200910069003.X | 申请日： | 2009-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN101551361A | 公开（公告）日： | 2009-10-07 |
| 发明（设计）人： | 刘刚 | 申请（专利权）人： | 天津钢管集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/24 | 分类号： | G01N29/24;G01N29/04 |
| 代理公司： | 天津才智专利商标代理有限公司 | 代理人： | 吕志英 |
| 地址： | 300301*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供一种利用超声波探伤壁厚检测分层缺陷装置，包括有超声波探头，该探头的安装孔内并列装有二壁厚检测晶片，所述超声波探头中的壁厚检测二晶片为圆形晶片，二检测晶片的中心距为12.4～12.8mm。还提供一种利用上述检测分层缺陷装置的检测方法。本发明的效果是经过现场试验，对标准平底孔缺陷测试效果满足了各项的要求，通过了壳牌认证并创造了巨大的经济效益，对钢管质量也多了一层把关，仅生产一个批次约2400吨壳牌管线管直接经济利润达七百万元，由于具有了这项检测功能在国内同行业中占据了很强的竞争优势，同时也为开拓海外市场的竞争中提供了技术保障。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 超声波 探伤 检测 分层 缺陷 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
1、一种利用超声波探伤壁厚检测分层缺陷装置，包括有超声波探头，该超声波探头安装在钢管生产线上的超声波探伤机旋转体上，并随旋转体以350转/分钟的速度旋转，该探头的安装孔内并列装有二壁厚检测晶片，其特征是：所述超声波探头中的壁厚检测二晶片为圆形晶片，二检测晶片的中心距为12.4～12.8mm。
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