[发明专利]一种低温沉积折射率可变的类金刚石薄膜的方法无效
| 申请号: | 200910066757.X | 申请日: | 2009-04-07 |
| 公开(公告)号: | CN101514439A | 公开(公告)日: | 2009-08-26 |
| 发明(设计)人: | 高劲松;王彤彤;王笑夷 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号: | C23C14/06 | 分类号: | C23C14/06;C23C14/54;C23C14/46 |
| 代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 | 代理人: | 刘树清 |
| 地址: | 130033吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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| 摘要: | 一种低温沉积折射率可变的类金刚石薄膜的方法,属于薄膜沉积技术领域中的方法。要解决的技术问题:提供一种低温沉积折射率可变的类金刚石薄膜的方法。解决的技术方案为:1.采用已有的真空室及工艺配置;2.在室温下,调节基底至有栅Kaufman离子源之间的距离;3.调节真空室的真空度达到2×10-3Pa量级;4.选择CH4和H2作为先驱气体,按4∶1的比例,输送到有栅Kaufman离子源中,沉积开始前,要先在基底上施加-20V的负偏压;5.沉积开始后,真空室的真空度保持在1×10-2Pa量级,控制有栅Kaufman离子源的放电电流为120mA。离子束能量在100eV-600eV时,可在基底上得到折射率为1.7-2.3之间的类金刚石薄膜。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 低温 沉积 折射率 可变 金刚石 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
1、一种低温沉积折射率可变的类金刚石薄膜的方法,其特征在于第一步,采用一个已有的真空室及沉积工艺配置,包括气体流量控制计(1)、真空室(2)、有栅Kaufman离子源(3)、旋转夹具(4)、真空室抽气孔(5)、负偏压(6)、基底(7)、基底上沉积的类金刚石薄膜(8);第二步,在室温下,把基底(7)固定在旋转夹具(4)上,并调节旋转夹具(4)与有栅Kaufman离子源(3)之间的距离,使基底(7)至有栅Kaufman离子源(3)之间的距离达到300mm;第三步,真空室(2)中的气体通过真空室抽气孔(5)被抽出,调节真空室(2)的真空度达到2×10-3Pa量级;第四步,选择CH4和H2作为先驱气体,并按照CH4∶H2=4∶1的比例,在气体流量控制计(1)的控制下均匀混合输送到真空室(2)内的有栅Kaufman离子源(3)中,在有栅Kaufman离子源(3)开始工作前,要先在基底(7)上施加-20V的负偏压(5);第五步,沉积开始后,真空室(2)的真空度通过真空室抽气孔(5)调节,保持在1×10-2Pa量级,控制有栅Kaufman离子源(3)的放电电流为120mA。离子束能量为100eV时,可在基底(7)上得到折射率为1.7的类金刚石薄膜(8)。当改变离子束流能量时,随着离子束流能量的提高,类金刚石薄膜(8)的折射率也随之改变,当离子束流能能量为370eV时,沉积的类金刚石薄膜的折射率为2.3。继续提高离子束流能量时,类金刚石薄膜(8)的折射率开始降低,当离子束流能量为600eV时,沉积的类金刚石薄膜的折射率为2.02,因此可以根据需要,选择不同的沉积参数以沉积折射率在1.7-2.3之间可变的类金刚石薄膜。
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