[发明专利]一种用于晶片频率腐蚀的方法及其设备无效
申请号: | 200910025830.9 | 申请日: | 2009-03-11 |
公开(公告)号: | CN101532180A | 公开(公告)日: | 2009-09-16 |
发明(设计)人: | 王玉香;肖玉森 | 申请(专利权)人: | 南京德研电子有限公司 |
主分类号: | C30B33/10 | 分类号: | C30B33/10;C23F1/24;C23F1/08 |
代理公司: | 南京君陶专利商标代理有限公司 | 代理人: | 沈根水 |
地址: | 210037江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及的是一种用于晶片频率腐蚀的方法及其设备,腐蚀的方法包括如下工艺步骤:一、腐蚀液的配置:二、腐蚀数量:三、腐蚀槽振动架上下运动:四、来料随机抽测晶片并由计算机自动计算该批次晶片的腐蚀时间;五、按照腐蚀时间启动腐蚀机。设备,其结构是在框内设有腐蚀槽,腐蚀槽紧邻三道清洗槽,三道清洗槽和腐蚀槽间用隔板隔开,三道清洗槽间有隔板,三道清洗槽的底部相通;三道清洗槽和腐蚀槽内各有一根传动杆,传动杆上有个固定架,盛放晶片篮放在该固定架;所述的腐蚀槽外围有一放水隔层。优点:由自动腐蚀晶片是原加工产量的8倍;腐蚀用计算机档案进行频率管控,减少人为因素;腐蚀和清洗能同时进行,从而减少人力也提高了效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 晶片 频率 腐蚀 方法 及其 设备 | ||
【主权项】:
1、一种用于晶片频率腐蚀的方法,其特征是该方法包括如下工艺步骤:一、腐蚀液的配置:F>30MHz时氟化氢铵水溶液(电子级),分子式:NH4HF2,分子量:57.04,含量33%±1%,密度为1.09~1.10g/ml;17L氟化氢铵水溶液放到腐蚀槽内,温度65±2℃;二、腐蚀数量:F≤17MHz1000~2000片/篮,F>17MHz1500~2000/篮;式中的F是频率;晶片的规格,共4篮;三、受电机控制的腐蚀槽振动架,在电机的控制下作上下运动:1~1.5次/秒(晶片型号HC-49U/S);四、从将腐蚀的晶片中随机抽测晶片20片,并将该20片的频率记录在计算机档案里,取其中频率最大的5片进行第一次腐蚀,在进行第一次腐蚀前应将所设定的时间和频率记录在计算机档案里,将第一次腐蚀的目标值为上述20片中的平均频率值加上述20片中的最大的频率值除以2,该批次晶片的腐蚀时间由计算机自动计算;五、启动腐蚀机,待晶片腐蚀到规定时间,将4篮晶片拎出,放入水温在80-100度的三道清洗槽内清洗,每一道槽清洗时间10~15分钟,经三道槽清洗后放在纯净水中超声清洗10~15分钟,然后放入电子级酒精超声脱水8~10分钟,最后烘干,除去晶片表面水迹。
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