[发明专利]光电测距方法及其装置

摘要

本发明涉及一种光电距离测量方法，包含步骤：将一个高频信号fH和一个低频混合信号fL在一个频率调制器中调制成一个第一高频调制信号fH+fL和一个第二高频调制信号fH-fL，分别用第一高频调制信号fH+fL和第二高频调制信号fH-fL对测量光束进行调制，对应的，光电接收及转换装置中分别产生一个第一低频测量信号和一个第二低频测量信号，第一低频测量信号包含第一相位信息，第二低频测量信号包含第二相位信息，通过处理第一相位信息和第二相位信息确定被测距离。本发明所揭示的光电距离测量方法，无需采用额外的内参考光路以及机械转换装置，从而大大简化了测距装置的结构，简化了测距装置的控制方法，同时降低了制造成本。

主权项

一种光电距离测量方法，包含步骤：将一个高频信号fH和一个低频混合信号fL在一个频率调制器中调制成一个第一高频调制信号fH+fL和一个第二高频调制信号fH-fL；将一束测量光束发射至一个被测物体上；用一个光电接收及转换装置接收被被测物体反射或散射回的测量光束；通过处理相位信息确定一个被测距离，其特征是：所述的第一高频调制信号fH+fL和所述的第二高频调制信号fH-fL中的一个对所述的测量光束进行调制，所述的测量光束发射至所述被测物体上，从所述被测物体反射或散射回的测量光束被所述光电接收及转换装置接收并转换成一个第一高频反射测量信号，所述的第一高频反射测量信号和所述高频信号fH在所述的光电接收及转换装置中进行混频并产生一个第一低频测量信号，所述的第一低频测量信号包含第一相位信息，所述的第一高频调制信号fH+fL和所述的第二高频调制信号fH-fL中的另一个对所述的测量光束进行调制，所述的测量光束发射至所述被测物体上，从所述被测物体反射或散射回的测量光束被所述的光电接收及转换装置接收并转换成一个第二高频反射测量信号，所述的第二高频反射测量信号和所述高频信号fH在所述的光电接收及转换装置中进行混频并产生一个第二低频测量信号，所述的第二低频测量信号包含第二相位信息，通过处理所述的第一相位信息和所述的第二相位信息确定所述被测距离。