[发明专利]建构光源测量对照表的方法、光源测量方法及系统有效
| 申请号： | 200910005886.8 | 申请日： | 2009-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN101799328A | 公开（公告）日： | 2010-08-11 |
| 发明（设计）人： | 王遵义;冯清章;张志交 | 申请（专利权）人： | 致茂电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/46 | 分类号： | G01J3/46;G01J3/28;G01J1/00 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 姜燕;陈晨 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种建构光源测量对照表的方法、光源测量方法及光源测量系统。该建构光源测量对照表的方法是利用一光源频谱模型的频谱参数、关于该光源测量系统的三个实际配色函数及三个标准配色函数，对应每一个频谱参数计算出一对照色坐标及一参考色坐标，以建立一对照表。该光源测量方法先以该光源测量系统测量一待测光源以得到实际刺激值，并计算出一实际色坐标；接着比对实际色坐标及对照色坐标，以决定关于该待测光源的一待测光源频谱参数及一估计色坐标；进一步利用该待测光源频谱参数、标准配色函数及实际刺激值，计算出一估计亮度。本发明对具有可模型化频谱特征的光源，可有效且高精确度地测量出其色度。 | ||
| 搜索关键词： | 建构 光源 测量 对照 方法 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
一种光源测量方法，用以根据一对照表以一光源测量系统测量一待测光源，该对照表包含基于一光源频谱模型的多个频谱参数及多个对照色坐标，每一个对照色坐标对应所述多个频谱参数其中之一，该光源测量方法包含下列步骤：以该光源测量系统测量该待测光源以得到三个实际刺激值并计算出一实际色坐标；根据该实际色坐标及该对照表，决定匹配该实际色坐标的至少一所述对照色坐标；以及根据对应该匹配的至少一对照色坐标的至少一所述频谱参数，决定一待测光源频谱参数。
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