[发明专利]一种嵌入式设备时间相关事件的测试方法及系统无效
| 申请号： | 200910001582.4 | 申请日： | 2009-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN101477478A | 公开（公告）日： | 2009-07-08 |
| 发明（设计）人： | 李芊芊 | 申请（专利权）人： | 福建星网锐捷网络有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭润湘 |
| 地址： | 350015福建省福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种嵌入式设备时间相关事件的测试方法及系统，为了解决对嵌入式系统设备一些时间相关事件进行测试时效率较低的问题，本发明公开的方法包括：接收用于对嵌入式设备系统时间进行修改的配置命令；根据所述配置命令中配置的时间，重新确定系统时间；根据系统时间，测试嵌入式设备的时间相关事件是否被延时触发，由于根据配置命令中配置的时间，重新确定系统时间，使得延时触发时间相关事件所需的时间缩短，进而在时间相关事件进行测试时效率得到提高了。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 嵌入式 设备 时间 相关 事件 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1、一种嵌入式设备时间相关事件的测试方法，其特征在于，包括：发送用于对嵌入式设备系统时间进行修改的配置命令；根据所述配置命令中配置的时间，重新确定系统时间，所述配置命令中配置的时间和其之后第一次触发时间相关事件的时间的差值的绝对值，小于所述配置命令被接收的时间和其之后第一次触发时间相关事件的时间的差值的绝对值；根据系统时间，测试嵌入式设备的时间相关事件是否被触发。
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