[发明专利]存储装置的发光二极管的测试方法及其测试工具有效
| 申请号： | 200910001502.5 | 申请日： | 2009-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN101769984A | 公开（公告）日： | 2010-07-07 |
| 发明（设计）人： | 丁怀亮;陈玄同 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储装置的发光二极管的测试方法及其测试工具，其特征是对独立的存储装置所属的发光二极管进行发光测试。在本发明中包括有测试工具与存储装置。测试工具中还包括有连接接口、处理单元与存储单元。存储单元用以存储测试程序与测试数据。处理单元用以执行测试程序，并且根据测试程序进行发送测试数据至存储装置。存储装置中至少包括有连接接口与发光二极管。处理单元用以执行测试程序，用以选择存储装置的端口并对端口发送测试数据，通过对存储装置的端口的存取，使得存储装置驱动发光二极管。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 装置 发光二极管 测试 方法 及其 工具 | ||
【主权项】：
一种存储装置的发光二极管的测试方法，其特征在于，对独立的存储装置所属的一发光二极管进行发光测试，该测试方法包括以下步骤：将该存储装置连接于一测试工具，其具有一测试程序与多笔测试数据；初始该存储装置；执行一测试程序，用以对该端口发送该些测试数据；通过对该存储装置的存取，使得该存储装置驱动用以该发光二极管；以及根据该发光二极管的亮度与发光频率，用以判断该发光二极管的运作状态。
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