[发明专利]质量分析装置有效

专利信息
申请号: 200880130156.4 申请日: 2008-07-03
公开(公告)号: CN102077086A 公开(公告)日: 2011-05-25
发明(设计)人: 梶原茂树 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种质量分析装置,对试样上的指定的质量分析范围内的各微小区域执行MS分析,根据由此得到的数据制作出指定的m/z或者m/z范围的分布图像并描绘在显示画面上(S10~S14)。当操作员观察该分布图像来确定关心物质并指示该关心物质的m/z值时(S15),提取在MS谱上该关心物质的m/z强度为阈值以上的微小区域,将关心物质的m/z作为前体来对该微小区域执行MS/MS分析(S26、S27)。根据所得到的各微小区域的MS/MS谱数据来算出平均MS/MS谱(S28),利用在平均MS/MS谱中出现的峰值信息来执行关心物质的鉴定(S19)。
搜索关键词: 质量 分析 装置
【主权项】:
一种质量分析装置,能够对设定于试样上的二维范围内的多个微小区域分别执行MS分析和MS/MS分析,该质量分析装置的特征在于,具备:a)MS分析执行单元,其对试样上的规定的二维范围内的各微小区域执行MS分析来收集MS谱数据;b)关心物质指定单元,其用于操作员参照上述MS谱数据来指定一至多个关心物质或者关心物质的m/z;c)MS/MS分析执行单元,其对上述规定的二维范围内的各微小区域执行将所指定的一至多个关心物质的m/z作为前体的MS/MS分析,来收集MS/MS谱数据;d)区域提取单元,其根据上述MS谱数据,按每个关心物质来提取存在上述一至多个关心物质的微小区域;e)平均谱算出单元,其从上述MS/MS谱数据中挑选由上述区域提取单元提取出的微小区域的MS/MS谱数据,使用所挑选出的MS/MS谱数据,按每个上述关心物质来算出平均MS/MS谱;以及f)鉴定单元,其使用上述关心物质的平均MS/MS谱来鉴定该关心物质。
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