[发明专利]用于分析具有不同拓扑图的表面与环境之间相互作用的高通量筛选方法和设备无效

专利信息
申请号: 200880123869.8 申请日: 2008-10-31
公开(公告)号: CN101952720A 公开(公告)日: 2011-01-19
发明(设计)人: 简·德·波尔;克莱门斯·安东尼·万·布利特斯韦克;蒙特·维杰库玛·乌那德凯特;迪米特里奥斯·斯达曼堤利斯;拜仁迪恩·雅各巴·帕彭伯格;马赛厄斯·卫斯林 申请(专利权)人: 屯特大学
主分类号: G01N33/50 分类号: G01N33/50;G01N33/543
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 谢顺星
地址: 荷兰恩*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及一种用于分析材料表面和环境间相互作用的高通量筛选方法,包括:提供包括所述材料并具有至少部分带有不同拓扑图的大量单元的微阵列;使至少部分所述大量单元与所述环境接触;和筛选所述微阵列以得出一个或多个所述单元与所述环境间的相互作用。
搜索关键词: 用于 分析 具有 不同 拓扑 表面 环境 之间 相互作用 通量 筛选 方法 设备
【主权项】:
用于分析材料表面和环境间相互作用的高通量筛选方法,包括:‑提供包括所述材料并具有至少部分带有不同拓扑图的大量单元的微阵列;‑使至少部分所述大量单元与所述环境接触;和‑筛选所述微阵列以得出一个或多个所述单元与所述环境间的相互作用。
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