[发明专利]组合成像以及痕迹检测检查系统和方法无效
申请号: | 200880122842.7 | 申请日: | 2008-12-03 |
公开(公告)号: | CN102016648A | 公开(公告)日: | 2011-04-13 |
发明(设计)人: | K·A·克拉克 | 申请(专利权)人: | 莫弗探测公司 |
主分类号: | G01V8/00 | 分类号: | G01V8/00;G01R33/44 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王岳;王忠忠 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 描述了用于成像以及化学上识别违禁物的系统和方法。在一方面,提供一种用于定位以及识别对象上的违禁物的方法。该方法包括利用多个成像传感器扫描对象以收集辐射测量数据(302),利用痕迹检测传感器(304)来从位于对象上和/或位于对象附近的化学蒸汽和粒子收集化学数据,以及融合收集的辐射测量数据以及收集的化学数据以生成违禁品的位置以及违禁品(306)的化学组分的概率中的至少一个。 | ||
搜索关键词: | 组合 成像 以及 痕迹 检测 检查 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种用于定位以及识别对象上的违禁品的方法,所述方法包括:利用多个成像传感器扫描对象以收集辐射测量数据;利用痕迹检测传感器从位于对象上或位于对象附近的化学蒸汽和粒子收集化学数据;融合收集的辐射测量数据以及收集的化学数据以生成违禁品的位置以及违禁品的化学组分的概率中的至少一个。
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