[发明专利]用于目标颗粒检测的微电子传感器装置有效
| 申请号： | 200880121115.9 | 申请日： | 2008-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN101903758A | 公开（公告）日： | 2010-12-01 |
| 发明（设计）人： | D·M·布鲁斯;J·J·H·B·施莱彭;J·A·H·M·卡尔曼;M·W·J·普林斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;G01N21/55;G01N33/543 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种微电子传感器装置，其用于检查结合到载体(11)的结合表面(12)处的结合位点(3)的目标颗粒(1)。在优选实施例中，输入光束(L1)发射到载体(11)中，在其中的结合表面(12)上发生受抑全内反射(FTIR)。光检测器(31)检测在最终的输出光束(L2)中的光的量，并且提供关于在结合表面上存在的目标颗粒的信息。此外，致动单元(50)通过与尤其是具有给定的调制频率(COIn)的磁场(B)或者电场相互作用而引起所结合的目标颗粒(1)的运动，从而通过检测器信号(S)的解调可以从背景中区分目标颗粒的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 目标 颗粒 检测 微电子 传感器 装置 | ||
【主权项】：
一种微电子传感器装置，其用于检查结合到载体(11)的结合表面(12)处的结合位点(3)的目标颗粒(1)，所述装置包括：a)传感器单元(21，31)，其用于提供指示在所述传感器单元的敏感区域(13)中存在目标颗粒(1)的传感器信号(S)；b)致动单元(50)，其用于选择性地引起所结合的目标颗粒(1)相对于所述传感器单元的所述敏感区域(13)的运动；c)评估模块(32)，其用于在考虑所引起的所述目标颗粒(1)的运动的情况下评估所述传感器信号(S)。
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