[发明专利]基于光子技术及具有低相位噪声的互相关零差检测有效

专利信息
申请号: 200880119850.6 申请日: 2008-11-13
公开(公告)号: CN101904115A 公开(公告)日: 2010-12-01
发明(设计)人: 丹尼·埃利亚胡;尼古莱·莫罗佐夫;勒弗拉·马勒基 申请(专利权)人: 光电波股份有限公司
主分类号: H04B10/02 分类号: H04B10/02;H04B10/13
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邸万奎
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一方面,本文档提供了用于描述振荡器特征的系统的实现。该系统包括:输入端口,从所测试振荡器接收振荡信号;输入端口信号分路器,将所接收的振荡信号分路为第一振荡信号和第二振荡信号;第一光子信号处理分支电路,处理该第一振荡信号来产生第一分支输出信号;第二光子信号处理分支电路,处理该第二振荡信号来产生第二分支输出信号;双路信号分析器,接收该第一和第二分支输出信号来测量所接收的振荡信号中的噪声;以及计算机控制器,控制该第一和第二光子信号处理分支电路和该双路信号分析器,以控制所接收的振荡信号中噪声的测量。
搜索关键词: 基于 光子 技术 具有 相位 噪声 互相 关零差 检测
【主权项】:
一种用于描述振荡器特征的系统,包括:输入端口,从所测试振荡器接收振荡信号;输入端口信号分路器,将所接收的振荡信号分路为第一振荡信号和第二振荡信号;第一光子信号处理分支电路,处理所述第一振荡信号来产生第一分支输出信号;第二光子信号处理分支电路,处理所述第二振荡信号来产生第二分支输出信号;双路信号分析器,接收所述第一分支输出信号和第二分支输出信号,以测量所接收的振荡信号中的噪声;以及计算机控制器,控制所述第一光子信号处理分支电路和第二光子信号处理分支电路以及所述双路信号分析器,以控制所接收的振荡信号中的噪声的测量。
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