[发明专利]非接触IC介质方向检测装置及其方法和程序、以及存储有该程序的计算机可读取的记录介质有效

专利信息
申请号: 200880119748.6 申请日: 2008-12-04
公开(公告)号: CN101889214A 公开(公告)日: 2010-11-17
发明(设计)人: 野上英克 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01S3/16 分类号: G01S3/16;G01S13/74;G06K17/00;H04B1/59;H04B5/02
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 关兆辉;穆德骏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明包括可朝向不同的指向方向来读取非接触IC介质(25)的接收部(10)和用于控制该接收部的信息处理部(13),由上述信息处理部执行:第1取得处理,使指向方向朝向第1方向,取得从具有规定识别信息的非接触IC介质接收到的信号的信号强度;第2取得处理,使指向方向朝向第2方向,取得从上述非接触IC介质接收到的信号的信号强度;合成处理,对上述第1方向的信号强度和第2方向的信号强度进行差分运算或者除法运算,取得合成信号强度;存在方向判断处理,通过判断该合成信号强度是否在预先规定的阈值范围内,来判断在由该阈值范围所区分的规定方向上,是否存在有作为对象的非接触IC介质。由此,可提供能够简单地获得非接触IC介质的存在方向的非接触IC介质方向检测装置(1)及非接触IC介质方向检测方法和其程序,以及存储有该程序的计算机可读取的记录介质。
搜索关键词: 接触 ic 介质 方向 检测 装置 及其 方法 程序 以及 存储 计算机 读取 记录
【主权项】:
一种非接触IC介质方向检测装置,其特征在于,包括有能朝向不同的指向方向来读取非接触IC介质的接收部和从该接收部接收信息并处理该信息的信息处理部,其中,上述信息处理部执行:第1取得处理,使指向方向朝向第1方向,取得从具有规定识别信息的非接触IC介质接收到的信号的信号强度;第2取得处理,使指向方向朝向第2方向,取得从上述非接触IC介质接收到的信号的信号强度;合成处理,对上述第1方向的信号强度和第2方向的信号强度进行差分运算或者除法运算,取得合成信号强度;存在方向判断处理,通过判断该合成信号强度是否在预先规定的阈值范围内,来判断在由该阈值范围所区分的规定方向上是否存在有作为对象的非接触IC介质。
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