[发明专利]用于执行MRI参考扫描的方法有效
| 申请号： | 200880114919.6 | 申请日： | 2008-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN101849194A | 公开（公告）日： | 2010-09-29 |
| 发明（设计）人： | M·富德勒 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/58 | 分类号： | G01R33/58;G01R33/565 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及执行包括多个图像点的检查体积的磁共振成像(MRI)参考扫描的方法，使用一组检测器元件(142)执行所述方法，所述方法包括：源自针对每个图像点的第一(214；306；310)和第二(216；308；312)回波的第一和第二复回波信号的相位灵敏性采集，其中，由该组检测器元件(142)中的每个所述检测器元件执行所述采集；针对该组检测器元件(142)中的检测器元件确定针对每个图像点的第一和第二回波信号之间的相位差；根据所述相位差计算针对每个图像点的局部磁场不均匀性值；导出针对每个图像点的线圈灵敏性矩阵，其中，通过计算由该组元件获取的所述第一和第二复回波信号的复比率导出所述线圈灵敏性矩阵。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 执行 mri 参考 扫描 方法 | ||
【主权项】：
一种执行包括多个图像点的检查体积的磁共振成像(MRI)参考扫描的方法，所述方法使用检测器元件的集合(142)执行，所述方法包括：-对源自针对每个图像点的第一回波(214；306；310)和第二回波(216；308；312)的第一复回波信号和第二复回波信号的相位灵敏性采集，其中，由所述检测器元件的集合(142)中的每个所述检测器元件执行所述采集；-针对所述检测器元件的集合(142)中的检测器元件确定针对每个图像点的所述第一回波信号和所述第二回波信号之间的相位差；-根据所述相位差计算针对每个图像点的局部磁场不均匀性值；-导出针对每个图像点的线圈灵敏性矩阵，其中，通过计算由所述元件的集合采集的所述第一复回波信号或所述第二复回波信号的复比率导出所述线圈灵敏性矩阵。
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