[发明专利]狭缝准直器散射校正无效
| 申请号: | 200880111349.5 | 申请日: | 2008-07-15 |
| 公开(公告)号: | CN101821751A | 公开(公告)日: | 2010-09-01 |
| 发明(设计)人: | J·M·萨波尔;K·N·贾布里;A·E·博登;M·L·岳 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
| 主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 柯广华;徐予红 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | 提出一种用于使用双能量X射线成像系统来确立患者的BMD的技术。在该技术中,双能量X射线成像系统利用狭缝准直器以两个不同能量的X射线对患者内的关注区的一系列部分曝光。平板数字X射线检测器检测到穿过患者的关注区的X射线并产生表示达到检测器的X射线的强度的数据。基于识别图像强度数据的仅从散射而非主X射线产生的区,针对散射校正图像强度数据。使用图像强度数据的一阶导数来识别这些区。确立对于仅散射区的边界处的散射强度的值。 | ||
| 搜索关键词: | 狭缝 准直器 散射 校正 | ||
【主权项】:
一种用于处理图像数据的计算机实现的方法,包括:访问由数字成像检测器获取的图像强度数据,其中所述图像强度数据包括由主X射线和散射产生的第一区和仅由散射产生的至少一个第二区;在所述图像强度数据内识别由主X射线和散射产生的所述第一区和仅由散射产生的所述至少一个第二区;确立仅由散射产生的所述图像强度数据的所述至少一个第二区中的散射强度;基于所述图像强度数据的所述至少一个第二区中的散射强度来估计所述图像强度数据的所述第一区中的散射强度;以及基于所述第一区中的所估计的散射强度来针对散射校正所述图像强度数据的所述第一区以确立散射校正的图像强度数据。
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