[发明专利]由至少两个半导体基体组成的复合物以及制造方法无效
申请号: | 200880110721.0 | 申请日: | 2008-09-02 |
公开(公告)号: | CN101821847A | 公开(公告)日: | 2010-09-01 |
发明(设计)人: | A·特劳特曼;A·费伊 | 申请(专利权)人: | 罗伯特.博世有限公司 |
主分类号: | H01L23/10 | 分类号: | H01L23/10;B81C1/00;H01L21/58 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 曹若;梁冰 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及复合物(5),它包括有第一半导体基体(1),它用钎焊料(3)固定在至少第二半导体基体(4)上,其中在钎焊料(3)和第二半导体基体(4)和/或至少一个在一定情况下设在这半导体基体(4)上的薄层之间设计有一种低共熔混合物(6)。按照本发明规定:低共熔混合物(6)设计在钎焊料(3)和微型结构(8)之间,这种结构在与钎焊料(3)的接触部位里,设计在第二半导体基体(4)和/或薄层上。此外本发明还涉及一种制造方法。 | ||
搜索关键词: | 至少 两个 半导体 基体 组成 复合物 以及 制造 方法 | ||
【主权项】:
复合物,它包括有第一半导体基体(1),它用钎焊料(3)固定在至少第二半导体基体(4)上,其中在钎焊料(3)和第二半导体基体(4)和/或至少一个可能设在这第二半导体基体(4)上的层之间设计有低共熔混合物(6),其特征在于,低共熔混合物(6)设计在钎焊料(3)和微型结构(8)之间,这种微型结构在与钎焊料(3)的接触部位里,设置在第二半导体基体(4)和/或所述层上。
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