[发明专利]用于改善X射线检查设备中的物质可识别度的方法和X射线检查设备有效

专利信息
申请号: 200880105770.5 申请日: 2008-08-01
公开(公告)号: CN101796400A 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: U·西登博格 申请(专利权)人: 史密斯海曼有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/08
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 赵科
地址: 德国威*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种用于改善X射线检查设备中的物质可识别度的方法,具有以下方法步骤:以不同的能量拍摄待检查对象的至少两幅吸收X射线图像,在假定每一层具有具体物质的情况下通过多个层来对该对象进行数学建模,其中吸收值描述了每一层的吸收能力,层的数量小于或等于X射线图像的数量,而且对于至少一层来说假定一种要在检查时识别的物质,将每层的吸收值分为去路径有关的因子和与能量有关的因子,借助吸收等式根据所述吸收X射线图像来计算所有层的与路径有关的因子,根据所有层的与权重因子相乘的吸收值之和来计算至少一幅合成图像,分析该合成图像。
搜索关键词: 用于 改善 射线 检查 设备 中的 物质 识别 方法
【主权项】:
一种用于改善X射线检查设备中的物质可识别度的方法,具有以下方法步骤:-在不同能量的情况下拍摄待检查对象的至少两幅吸收X射线图像,-在假定每一层具有具体物质的情况下通过多个层来对该对象进行数学建模,其中吸收值描述一个层的吸收能力,层的数量小于或等于X射线图像的数量,而且对于至少一层假定存在检查时要识别的物质,-将每层的吸收值分解为与路径相关的因子和与能量相关的因子,-借助吸收等式根据所述吸收X射线图像来为所有层计算与路径相关的因子,-根据所有层的与权重因子相乘的吸收值的和来计算至少一个合成图像,-分析该合成图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于史密斯海曼有限公司,未经史密斯海曼有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200880105770.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top