[发明专利]用于检验存储在存储器的预定存储区域中的数据的完整性的方法和装置有效
| 申请号： | 200880100239.9 | 申请日： | 2008-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN101772770A | 公开（公告）日： | 2010-07-07 |
| 发明（设计）人： | J·-U·布泽;S·弗里斯 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G06F21/00 | 分类号： | G06F21/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张涛;李家麟 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 推荐了一种用于检验存储在第一装置的存储器中的预定存储区域中的数据的完整性的方法，其中该第一装置借助网络与至少一个第二装置耦合，该方法具有如下步骤：提供至少一个参数，所述参数适于影响至少一个预定的哈希函数的哈希值；根据在预定存储器中存储的数据、所述至少一个预定的哈希函数和所述至少一个参数来计算至少一个哈希值；通过第二装置根据所计算的一个或多个哈希值检验在第一装置的预定存储区域中存储的数据的完整性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检验 存储 存储器 预定 区域 中的 数据 完整性 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于检验存储在第一装置(2)的存储器(1)中的预定存储区域(SB1)中的数据(D)的完整性的方法，其中该第一装置(2)借助网络(4)与至少一个第二装置(3)耦合，该方法具有如下步骤：a)提供至少一个参数(P)，所述至少一个参数适于影响至少一个预定的哈希函数的哈希值(H1，H2)；b)根据在预定存储区域(SB1)中存储的数据(D)、所述至少一个预定的哈希函数和所述至少一个参数(P)来计算至少一个哈希值(H1，H2)；以及c)通过第二装置(3)根据所计算的一个哈希值(H1)或多个哈希值(H1，H2)检验在第一装置(2)的预定存储区域(SB1)中存储的数据(D)的完整性。
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