[发明专利]Ⅲ族氮化物单晶的制造方法有效
申请号: | 200880024501.6 | 申请日: | 2008-07-11 |
公开(公告)号: | CN101743346A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
发明(设计)人: | 仓冈义孝;角谷茂明;三好实人;今枝美能留 | 申请(专利权)人: | 日本碍子株式会社 |
主分类号: | C30B29/38 | 分类号: | C30B29/38;C30B19/02 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 徐申民 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 通过气相生长法在基板(1)上形成由Ⅲ族氮化物构成的基底膜(2)。通过在氢存在下加热处理基板(1)以及基底膜(2),除去基底膜(2)使基板(1)的表面粗面化。通过气相生长法在基板(1A)的表面形成由Ⅲ族氮化物单晶构成的籽晶膜(4)。在籽晶膜(4)上通过助熔剂法培养Ⅲ族氮化物单晶(5)。 | ||
搜索关键词: | 氮化物 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种III族氮化物单晶的制造方法,特征在于,具有:基底膜形成工序,通过气相生长法在基板上形成由III族氮化物构成的基底膜;蚀刻工序,通过在氢存在下加热处理所述基板以及所述基底膜,除去所述基底膜使所述基板的表面粗面化;籽晶膜形成工序,通过气相生长法在所述基板表面形成由III族氮化物单晶构成的籽晶膜;以及单晶培养工序,在所述籽晶膜上通过助熔剂法培养III族氮化物单晶。
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