[发明专利]集成电路、光盘装置以及跟踪误差信号生成方法无效
| 申请号： | 200880023100.9 | 申请日： | 2008-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN101689383A | 公开（公告）日： | 2010-03-31 |
| 发明（设计）人： | 片山刚;山元猛晴;坂井满 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/09 | 分类号： | G11B7/09 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 第一比较器(112a)将第一电压信号与预定的阈值进行比较，输出与比较结果相应的第一二值化信号。第二比较器(112b)将第二电压信号与预定的阈值进行比较，输出与比较结果相应的第二二值化信号。第一数字采样部(113a)以预定的采样频率对由第一比较器(112a)输出的第一二值化信号进行采样，从而生成第一采样信号。第二数字采样部(113b)以预定的采样频率对由第二比较器(112b)输出的第二二值化信号进行采样，从而生成第二采样信号。相位差检测电路(114)检测由第一数字采样部(113a)生成的第一采样信号和由第二数字采样部(113b)生成的第二采样信号的相位差。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 光盘 装置 以及 跟踪 误差 信号 生成 方法 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路，在包括象限光电探测器的光盘装置中根据第一电压信号和第二电压信号来生成跟踪误差信号，其中，上述象限光电探测器具有在将光照射到光记录介质上时接受来自该光记录介质的反射光的第一受光面和第二受光面；上述第一电压信号表示上述第一受光面的受光量；上述第二电压信号表示上述第二受光面的受光量，该集成电路的特征在于，其包括：第一比较器，将上述第一电压信号与预定的阈值进行比较且输出与比较结果相应的第一二值化信号；第二比较器，将上述第二电压信号与预定的阈值进行比较且输出与比较结果相应的第二二值化信号；第一数字采样部，通过以预定的采样频率对由上述第一比较器输出的第一二值化信号进行采样来生成第一采样信号；第二数字采样部，通过以预定的采样频率对由上述第二比较器输出的第二二值化信号进行采样来生成第二采样信号；相位差检测电路，检测由上述第一数字采样部生成的第一采样信号与由上述第二数字采样部生成的第二采样信号的相位差，并生成表示检测出的相位差的相位差信号；以及低通滤波器，对由上述相位差检测电路生成的相位差信号进行高频成分的遮断来作为上述跟踪误差信号进行输出。
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