[发明专利]用于检查和/或去除产品流中不适合物体的方法和系统以及实现该方法和系统的分类仪器有效

专利信息
申请号: 200880010243.6 申请日: 2008-03-27
公开(公告)号: CN101680844A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: B·迪里耶;D·亚当斯;P·奥普德贝克 申请(专利权)人: 维塞斯恩威公司
主分类号: G01N21/85 分类号: G01N21/85;G01N21/89;B07C5/342
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 代理人: 程 伟;王锦阳
地址: 比利时*** 国省代码: 比利时;BE
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摘要: 一种检查产品流(2)中的不适合或不规则的物体的系统(1),该系统(1)包括沿着扫描线(S)扫描产品流(2)的扫描手段(10)和在扫描后检测产品流(2)再发射的光束(5、6)的检测手段(20),扫描线(S)由最少一个将光(14)沿着该扫描线(S)导向的光源(11)形成,扫描手段(10)包括在最少一个维度将光(12)集中的聚焦手段(26),检测手段(20)包括定义图像平面(P2)的聚焦手段(21),产品流(2)沿着该扫描线(S)的空间图像(3’、4’)在图像平面上形成,聚焦手段(21)设计为在最少一个维度聚焦该图像(3’、4’),并面向该扫描线(S),因此扫描线(S)上的点在图像平面(P2)中形成投射扫描线(SP),检测手段(20)还包括在图像平面(P2)运作的空间过滤手段(22),空间过滤手段(22)只在跟该投射扫描线(SP)的方向成直角的方向(yP)上过滤图像(3’、4’)。
搜索关键词: 用于 检查 去除 品流 不适合 物体 方法 系统 以及 实现 分类 仪器
【主权项】:
1、一种检查产品流(2)中的不适合或不规则的物体的系统(1),该系统(1)包括沿着扫描线(S)扫描产品流(2)的扫描手段(10)和在扫描后检测产品流(2)再发射的光束(5、6)的检测手段(20),扫描线(S)由最少一个将光(14)沿着该扫描线(S)导向的光源(11)形成,扫描手段(10)包括在最少一个维度将光(12)集中的聚焦手段(26),其特征在于:检测手段(20)包括定义图像平面(P2)的聚焦手段(21),产品流(2)沿着该扫描线(S)的空间图像(3’、4’)在图像平面上形成,聚焦手段(21)设计为在最少一个维度聚焦该图像(3’、4’),并面向该扫描线(S),因此扫描线(S)上的点在图像平面(P2)中形成投射扫描线(SP),检测手段(20)还包括在图像平面(P2)运作的空间过滤手段(22),空间过滤手段(22)只在跟该投射扫描线(SP)的方向成直角的方向(yP)上过滤图像(3’、4’)。
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