[发明专利]用于卷轴上器件的材料输送器无效

专利信息
申请号: 200880008544.5 申请日: 2008-01-29
公开(公告)号: CN101669035A 公开(公告)日: 2010-03-10
发明(设计)人: 约翰·亚当斯 申请(专利权)人: 泰瑞达亚洲股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01N35/04
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 谷惠敏;穆德骏
地址: 新加坡*** 国省代码: 新加坡;SG
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摘要: 发明涉及一种用于向用于测试的测试器传送卷轴上器件的材料输送器,所述材料输送器包括:可旋转组件,所述可旋转组件接合卷轴上器件并且朝着测试器旋转该卷轴上器件,所述测试器具有探针头;比较器装置,所述比较器装置比较该器件关于该探针头的位置;对准装置,该对准装置与该比较器装置进行通信,以将该器件定位到该用于测试的探针头,其中,该对准装置将该器件定位到探针头,以供在用于直对接的器件上执行测试。有利地,这消除了在测试头上将该探针旋转到该器件的需要,并且进一步减小了信号长度并且因此减小了信号通路中的电容量。
搜索关键词: 用于 卷轴 器件 材料 输送
【主权项】:
1.一种用于向用于测试的测试器传送卷轴上器件的材料输送器,所述材料输送器包括:可旋转组件,所述可旋转组件接合所述卷轴上器件并且朝着测试器旋转所述卷轴上器件,所述测试器具有探针头;比较器装置,所述比较器装置用以比较所述器件关于所述探针头的位置;对准装置,所述对准装置与所述比较器装置进行通信,以将所述器件定位到用于测试的所述探针头;其中,所述对准装置将所述器件定位到所述探针头,以供在所述器件上执行测试。
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