[实用新型]内存测试治具无效
| 申请号： | 200820151007.3 | 申请日： | 2008-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN201251780Y | 公开（公告）日： | 2009-06-03 |
| 发明（设计）人： | 郭雅珲;陈志丰 | 申请（专利权）人： | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陈 亮 |
| 地址： | 201114上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种内存测试治具，适于与配置在主板上的第一内存插槽电性连接。此内存测试治具包括一载板、一第二内存插槽以及多个连接器。其中，载板具有金手指，以插入第一内存插槽。第二内存插槽用以插设一待测内存模块，并具有与待测内存模块的测试端电性相连的多个测试点。所述多个连接器分别与这些测试点一对一电性连接。藉此，与这些连接器电性相连的多个传输线，将可传送来自待测内存模块的测试端的信号。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 测试 | ||
【主权项】：
1. 一种内存测试治具，其特征在于，适于与配置在一主板上的一第一内存插槽电性连接，且该内存测试治具包括：一载板，具有一金手指，以插入该第一内存插槽；一第二内存插槽，配置在该载板上，并电性连接该金手指，其中该第二内存插槽用以插设一待测内存模块，并具有与该待测内存模块的测试端电性相连的多个测试点；以及多个连接器，分别配置在该载板上，并与该些测试点一对一电性连接，其中该些连接器分别用以连接一传输线，以传送来自该待测内存模块的测试端的信号。
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