[实用新型]新型测试结构和包含该测试结构的测试系统无效
| 申请号： | 200820054505.6 | 申请日： | 2008-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN201149610Y | 公开（公告）日： | 2008-11-12 |
| 发明（设计）人： | 汪书红;任重;邱文谅 | 申请（专利权）人： | 英华达(上海)电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 逯长明 |
| 地址： | 2002*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种新型测试结构，包括第一射频接头和测试夹具，其特征在于，还包括承载板，所述第一射频接头与所述承载板固定连接，所述承载板通过若干弹性部件与所述测试夹具弹性连接。本实用新型同时还公开了一种包含上述测试结构的测试系统。本实用新型中，在测试夹具垂直向PCBA板移动时，所述第一射频接头自动偏向，以便与被测产品上的射频接头的端面紧密吻合，保证了射频测试结果的准确性，并且，在测试完成之后，在弹性部件的作用下，所述第一射频接头能够自动复位。在生产测试过程中，应用本实用新型能够较大提升产品的合格率，降低重测不合格率，进而提高出货效率，节约劳动力成本。 | ||
| 搜索关键词： | 新型 测试 结构 包含 系统 | ||
【主权项】：
1、一种测试结构，包括第一射频接头和测试夹具，其特征在于，还包括承载板，所述第一射频接头与所述承载板固定连接，所述承载板通过若干弹性部件与所述测试夹具弹性连接。
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