[发明专利]测试装置及测试方法无效
| 申请号： | 200810304206.8 | 申请日： | 2008-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN101661060A | 公开（公告）日： | 2010-03-03 |
| 发明（设计）人： | 王仲培 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试装置，用于测试元件的防电磁干扰涂层的电阻，所述测试装置包括承载基板与电阻计，所述承载基板具有阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点，所述多个收容孔用于收容多个待测试元件，所述阴极测试接点与阳极测试接点相对，所述阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点之间通过导电介质依次连接，所述电阻计与所述阳极测试接点和阴极测试接点电连接，用于获得阳极测试接点与阴极测试接点之间的电阻。本发明还提供一种利用该测试装置的测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，用于测试元件的防电磁干扰涂层的电阻，所述测试装置包括承载基板与电阻计，其特征在于，所述承载基板具有阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点，所述多个收容孔用于收容多个待测试元件，所述阴极测试接点与阳极测试接点相对，所述阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点之间通过导电介质依次连接，所述电阻计与所述阳极测试接点和阴极测试接点电连接，用于获得阳极测试接点与阴极测试接点之间的电阻。
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