[发明专利]射线检测系统以及利用射线进行无损检测物体的方法有效
| 申请号： | 200810227002.9 | 申请日： | 2008-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN101738406A | 公开（公告）日： | 2010-06-16 |
| 发明（设计）人： | 李元景;陈志强;李荐民;吴玉成;杨光;肖永顺;孙尚民;张克;叶梁;苏建军;陆宏宇;叶青;雍涛;姜海涛;李建军;万静;何正军;王东宇;陈少锋;周立英 | 申请（专利权）人： | 北京固鸿科技有限公司;清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/18 | 分类号： | G01N23/18;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张群峰;何自刚 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 射线检测系统以及利用射线进行无损检测物体的方法：该检测系统包括：辐射源，用于发射扫描射线；探测器阵列，沿水平方向与所述辐射源隔开并相对于所述辐射源固定安装，用于接收由所述辐射源发射的射线；轨道，在所述辐射源与所述探测器阵列之间穿过；运载器，用于承载被检测物体，并可在所述轨道上往复运动；和导轨平移装置，与所述轨道配合设置，能够使所述运载器脱离所述轨道来与所述导轨平移装置接合，并且可以按照所需方式调节所述运载器在所述辐射源与所述探测器阵列之间的运动。本发明通过合理设计流程可实现流水作业，从而大大提高检测效率。另外，本发明尤其可以对被检测物体的重点部位进行CT断层扫描，从而对内部缺陷做出准确判断。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检测 系统 以及 利用 进行 无损 物体 方法 | ||
【主权项】：
一种射线检测系统，包括：辐射源，用于发射扫描射线；探测器阵列，沿水平方向与所述辐射源隔开并相对于所述辐射源固定安装，用于接收由所述辐射源发射的射线；轨道，在所述辐射源与所述探测器阵列之间穿过；运载器，用于承载被检测物体，并可在所述轨道上往复运动；和导轨平移装置，与所述轨道配合设置，能够使所述运载器脱离所述轨道来与所述导轨平移装置接合，并且可以按照所需方式调节所述运载器在所述辐射源与所述探测器阵列之间的运动。
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