[发明专利]一种基于表面等离激元干涉的折射率传感器及其探测方法无效
| 申请号： | 200810224628.4 | 申请日： | 2008-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN101726470A | 公开（公告）日： | 2010-06-09 |
| 发明（设计）人： | 张家森;吴晓飞;龚旗煌 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 张国良 |
| 地址： | 100871*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及光学测量技术领域。本发明公开了一种基于表面等离激元干涉的折射率传感器，所述传感器包括：衬底、激发部件、缝式散射耦合结构以及缝式干涉耦合结构。本发明还公开了所述传感器的探测方法，所述方法包括：待测样品在激发部件一侧；光源在另一侧通过聚焦部件聚焦；聚焦光束通过缝式散射耦合结构在激发部件上下表面激发两路表面等离激元(Surface Plasmon)并且各自独立地传到缝式干涉耦合结构处发生干涉；根据干涉结果的改变来感应所述激发部件表面待测样品的折射率的变化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 表面 离激元 干涉 折射率 传感器 及其 探测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于表面等离激元干涉折射率传感器，其特征在于，所述传感器包括：衬底(1)；激发部件(2)，所述激发部件位于所述衬底(1)上；缝式散射耦合结构(3)，所述缝式散射耦合结构(3)位于所述激发部件(2)内；缝式干涉耦合结构(4)，所述缝式干涉耦合结构(4)位于所述激发部件(2)内且与所述缝式散射耦合结构(3)相互平行。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学，未经北京大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810224628.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种下照式荧光分析仪器测试点定位装置
- 下一篇：一种三极管配对方法和装置
