[发明专利]一种芯片静电放电测试失效后的调试方法及装置有效
| 申请号： | 200810224120.4 | 申请日： | 2008-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN101398460A | 公开（公告）日： | 2009-04-01 |
| 发明（设计）人： | 欧阳浩宇 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 顾惠忠 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种芯片ESD测试失效后的调试方法，该芯片为包含多组电源模块的同种芯片，该方法包括：对第一芯片进行ESD检测，获得失效管脚；在第二芯片上，把与所述失效管脚位置相应的第二管脚接地，并对芯片中未测模块进行放电测试；每完成一组模块的测试，根据预置规则判断第二管脚是否失效；若失效，则当前模块为失效模块，并在第三芯片上继续下一模块的测试，以及在另一芯片上对失效模块进行管脚测试；若未失效，则在当前芯片上继续下一模块的测试。本发明在找到ESD失效管脚后，以模块为单元分组排查，先确定失效模块，再在失效模块内找到具体的管脚失效组合，由此大幅度的减少了调试所需样品个数，提高了调试速度，节省了调试费用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 静电 放电 测试 失效 调试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种芯片静电放电ESD测试失效后的调试方法，其特征在于，所述芯片为包含多组电源模块的同种芯片，所述方法包括：对第一芯片进行ESD检测，获得失效管脚；在第二芯片上，把与所述失效管脚位置相应的第二管脚接地，并对芯片中未测模块内的管脚进行放电测试；每完成一组模块的测试，根据预置规则判断所述第二管脚是否失效；若失效，则标记当前模块为失效模块，并在第三芯片上继续下一模块的测试；以及，在另一芯片上对所述失效模块进行管脚放电测试；若未失效，则在当前芯片上继续下一模块的放电测试。
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