[发明专利]半导体装置及其制造方法无效
| 申请号: | 200810212653.0 | 申请日: | 2008-08-27 | 
| 公开(公告)号: | CN101393913A | 公开(公告)日: | 2009-03-25 | 
| 发明(设计)人: | 樋口裕一郎;高桥桂太 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 | 
| 主分类号: | H01L27/04 | 分类号: | H01L27/04;H01L23/62;H01L21/00 | 
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 | 
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP | 
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| 摘要: | 实现在FEOL电平的正负低电压的范围从扩散工序中的充电增强保护被保护元件,且,扩散工序结束后在被保护元件上能够施加驱动被保护元件所必须的正负两极性高电压的半导体装置。半导体装置,包括:具有被保护元件电极(22)的被保护元件(21)、具有与半导体衬底(11)电连接的衬底连接电极(42)的衬底连接部(41)、具有形成在被保护元件电极(22)和衬底连接电极(42)之间的保险膜(32)的保险构造(31)。保险膜(32),形成为能够被切断,在没有切断保险膜(32)的状态下,被保护元件电极(22)、衬底连接电极(42)、及保险元件电极(32)由一体形成的导电膜(15)形成。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
                1. 一种半导体装置,其特征在于:包括:形成在半导体衬底上的,具有被保护元件电极的被保护元件,具有与上述半导体衬底电连接的衬底连接电极的衬底连接部,形成在上述被保护元件电极和上述衬底连接电极之间的,具有流过所规定的电流而能被切断的保险膜的保险构造,另外上述被保护元件电极、衬底连接电极、及保险膜,在上述保险膜没有被切断的状态下,由一体形成的导电膜构成。
            
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                    H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
                
            H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





